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Contour X 白光干涉光学轮廓仪
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布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要

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产品详情
 

布鲁克Bruker白光干涉光学轮廓仪 Contour X, 满足微纳米表面测量需要

 

简介:

 

•桌面型精巧款式

•采集数据,自动测量,分析和数据后处理,一气呵成的完备方案

•样品尺寸:

      •150 mm x 150 mm x 92 mm

      •最大承载 4.5 kg

•垂直分辨率: < 0.01nm @ 所有视场下

•横向分辨:

        •最佳0.3µm (±150nm)

        •AcuityXR 0.15µm (±75nm)

•基于白光干涉原理,结果可溯源

                         

白光干涉技术内在优势

 

 

 

垂直分辨率

 

 

 

普适性,易于操作、各种样品类型与表面

 

 

 

计量

 

 

 

 

硬件,为性能所做优化

 

 

 

物镜,为挑战性测量专门设计

 

 

 

 

完备的自动化测量系统标准配置

 

 

 

 

 独特的缝合功能

针对不同应用下,提升效率 

 

 

 

ContourX

关键好处

 

 

最佳高质量计量

作为桌面型轮廓仪

 

 

 

 

布鲁克白光干涉轮廓仪

专为您的应用服务

 

 

•从每日测试挑战到满足严苛要求,可靠的表面计量

•不同应用示例:展示布鲁克白光干涉独到之处

    •薄膜与镀层

    •精密加工

    •材料研究

    •MEMS与传感器

    •光学元器件

    •半导体

    •摩擦学

 

 

薄膜与镀层:表面粗糙度与厚度,独特的准确性

 

 

 

 

表面粗糙度与平整度

满足您的严苛要求

 

 

 

材料研究:表面纹理,揭示最微小的细节

 


 

 

MEMS和传感器

 

关键尺寸– 质量控制,匹配您的所有需求

 

 

 

 

关键尺寸– 质量控制,完备的自动化组件

 

 

光学元器件:全频谱密度的粗糙度信息

 

 

 

光栅与光学器件,亚微米计量

 

 

 

微型光学形貌表征

 

 

缺陷侦测


 

半导体:质量监控与工艺开发,匹配您的应用需求

 

质量监控与工艺开发,完备的软件平台

 

 

 

关键尺寸– 质量控制

完备的自动化组件

 

 

 

摩擦学

表面纹理与磨损体积(速率)

满足您对准确性的需求

 

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