ContourX-200光学轮廓仪完美融合了高级表征、可定制选项和易用性，可提供一流的快速、准确和可重复的非接触式三维表面计量方法。该设备作为可用于计量的小尺寸系统，配置了大视场的5百万像素摄像头和新型电动XY载物台，可提供高性能的的2D / 3D高分辨率测量功能。

ContourX-200还配有业界最先进的操作和分析软件Vision64®。最新的VisionXpress™提供了更易于使用的界面和简洁的功能，可访问多种预编程滤镜和分析工具，用于精密加工的表面，薄膜，半导体，眼科，医疗设备，MEMS和摩擦学等领域的测量分析。

ContourX-200具有无与伦比的Z轴分辨率和准确性，提供了布鲁克专有的白光干涉仪（WLI）的所有业界公认的优点，却没有传统共聚焦显微镜等产品的局限。

最高性能表面计量

。与放大倍率无关的业界最好Z轴分辨率

。最大尺寸的标准视场

。稳定集成防震设计

卓越的测量与分析功能

。易于使用的界面，可快速准确地获得结果

。自动化功能用于日常测量和分析

。最广泛的滤镜和分析工具选项，用于粗糙度和关键尺寸测量分析

。满足包括ISO 25178, ASME B46.1, ISO 4287等标准在内的定制化分析报告

无与伦比的一流计量设备