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半导体微纳检测仪器 > Keyence 日 显微镜/3D轮仪
 
VK-X3000基恩士KEYENCE 形状测量激光显微系统
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KEYENCE 基恩士 形状测量激光显微系统全新 VK-X3000，纳米 / 微米 / 毫米，一台即可完成测量。292 种分析工具，一台即可了解希望获取的信息。一台即包含了光学显微镜，台阶仪，光学轮廓仪，及电镜功能。

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产品详情

KEYENCE 基恩士 形状测量激光显微系统全新 VK-X3000

纳米 / 微米 / 毫米
一台即可完成测量
 
 

超越激光显微镜的限制，以三重扫描方式应对

 

一台即可测量纳米 / 微米 / 毫米

三重扫描方式

一台设备可使用激光共聚焦、聚焦变化、白光干涉等三种不同的扫描原理。根据样品工件的材料、形状和测量范围选择适合的扫描方式，进行高精度测量。

 

一台即可了解希望获取的信息

292 种分析工具

测量软件不仅可以测量高度或尺寸，还能通过多样的分析工具按照用户的想法实现进一步的分析。

 

 

激光显微系统的基本特点

 

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