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半导体微纳检测仪器 > 日本理学X射线衍射仪
 
Smartlab SE 智能多功能X射线衍射仪
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日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE, 高自动化、多功能衍射仪, 精于形,智于心,易用、智能的全功能X射线衍射仪

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产品详情

日本Rigaku 智能多功能X射线衍射仪 Smartlab SE

高自动化、多功能衍射仪, 精于形,智于心

 

易用、智能的全功能X射线衍射仪

 

多功能X 射线衍射仪装备有多种附件 ,兼具多种用 途 ,例如 :粉 末 衍 射 、小角散 射 、残余 应 力等多 种 应用。然而,伴随着仪器附件及功能的增加 ,多功能 X射线衍射仪的易用性不断降低 。您是否确定测试人 员选择了最佳的测试条件 ?当进行多种复杂附件切换 的时候,1fE如何确定仪器处于最佳的矫正状态 ?

 

Smartlab SE 从如下三个方面解答了您 的疑问。 首先,仪器可以通过二维码 自动识别装载于衍射仪上的 组件,井检查相关组件是否满足用户选择的测试 。理 学智能的软件会建议操作人员 更换组件 ,以达到最佳 的测试结果。

 

其次 ,理学独有的全自动校正操作 ,会在组件安装完 毕后启动。在实验前的自动校正 ,是确保实验数据一 致性 ,咸小实验误差 的唯一方法。

 

除此之外,全新的Sma「tlab  Studio  || 软件为全新的 Smartlab  SE  提供了模块化的衍射功能组件 ,包括仪 器的控制 、衍射数据的分析和生成报告等。Smartlab Studio  II  软件的设计思路,源自于理学的简单易用的 设计语言。全新的 Guidance  软件确保即使是初学者 也可以通过软件的“引导”获得与同行专家一样的测试 数据。

 

引导用户从测试到数据分析

 

Smartlab Studio || 软件包中的Guidance软件可以根 据用户希望完成的测试 ,给出仪器所需硬件配置 ,井 优化测量参数 。对于常见的测试,软件会给出最优化 的仪器配置,井可以 自动化的完成测试序列。由于 Smartlab中使用了独有的组件识别技术 ,因此当测试 人员没有正确配置光路或附件时 ,Guidance 软件可以 告知测试人员。软件参数的优化与硬件组件的智能确 认是Smartlab系统可以胜任所有样品测试的关键 。

 

 

可以满足不同应用需求

多种光路及附件组合 ,能满足多种用户测试需求 。 简单 、快速的切换不 同的光路几何

CBO (交叉先路) 技术与光路自动调整和样品位置矫 正的结合 ,可以使用户在多种光路几何间 ,快速便捷 的切换。

 

支持多种附件

自动进样器 、样品旋转台、变温附件或湿度控制附件 等多种附件可供用户选择。

 

可满足快速和二维测量的先进的探测器

Smartlab SE提供两个先进的检测器 :D/teX Ultr a 250 高速一维探测器作为标准配置 ,HyPix-400 二维 半导体阵列检 测器 作 为 升级配 置 供 用 户选 择 。 HyPix-400半导体阵列检测器不仅可以在二维模式下 使用,同时还可以切换为零维或一维模式 ,这样极大 的扩展了该检测器的应用范围。

 

从粉末测试到二维数据采集

根据用户的需要,整个仪器的配置可以满足常规粉末样品测试, 或者,复杂的微区或原位测试等要求 。

 

标准光路配置

Bragg-Brentano 聚焦光路

.粉末测试

·定量分析

.晶粒尺寸

     ·结晶度

 

                     

 

切换至SAXS测量模式 理学专利的交叉光路 ( CBO) 技术

 

使用CBO光路系统

聚焦光路件平行光路 〈通过CBO 转换)

· SAXS 测试 薄膜测试 聚焦光路悼会聚光路法 (CBO-E)

.粉末透射测试

聚焦光路件发散光路 (通过CBO α转换)

.高峰背比 (P/B) 的粉末测试

 

切换至微区测量模式HyPix-400检测器

搭载HyPix-400 的光路系统

装载有HyPix-400 二维探测器的光路

.微区测试

·原filln-situ测试

.取向测试

 

Smartlab SE 产品特征

 

先进的高速探测器

 

高分辨率,超快速 一维 X 射线探测器D/teX Ultra250 (0/1D)

D/teX Ultra250 一维探测器支持Bragg-Brentano聚焦法测试 ,并且可 以在短时间内获得广角度的粉末衍射峰形 。作为一款高性能的半导 体检测器 ,其极高的能量分辨率可以有效的降低在测试过程中产生 的背景噪音。D/teX Ultra250 高速探测器作为一维探测器使用时 ,可 以检测到极弱的衍射信号 ,同时,该探测器还可以像闪烁计数器一 样,作为零维探测器使用 。

 

 

半导体阵列多维探测器 HyPix-400 (OD /1D/20)

SmartLab SE搭载了先进的HyPix-400半导体阵列20探测器 。如果说 D/teX Ultra 250可以胜任常规的零维和一维模式读取的话 ,那么大读 取面积的HyPix-40 0 二维探测器在收集二维衍射照片方面具有非常 大的优势,HyPix -400 二维探测器可以在极短的时间内完成晶体取 向评估及广域倒易空 间成像等多种应用。

 

 

交叉光路技术 :CBO (理学专利)

 

CBO  是理学专利的光路切换单元 ,使用CBO仅需要对狭缝更换即可 完成两种不 同的光路几何之间的切换。SmartLab  SE  可以根据用户 需求提供三种不同的CBO单元的组合 :Bragg-Brentano  聚焦光束/平 行光束,B「agg-Brentano   聚焦光束/会聚光束,B「agg-Brentano   聚 焦光束/发散光束。

 

B旧gg”Brentan   聚焦法 :衷方法多用于常规粉末 XRD) lj试。

                                     

平行光束法 (CBO) :多层膜抛物面镜使发散的光束变为平行光 。 该光束多用于SAXS ,薄膜样品或表面粗糙样品的测试等。

                              

会聚光束法 (CBO-E) :发散的光束通过具有椭圆形镜面的多层膜 透镜会聚于被测表面 ,该光路可以在透射模式下提供高角度分辨率 的数据。

发散光束法 (CBO α):光束被平面 多层膜镜单色后,只有 Kα,相     比Bragg-Brentano 可以增加数据的峰背比。

 

测量及数据分析软件包 Smartlab  Studio 11

 

Sma「tlab  Studio  II 是一个功能强大、操作界面友好的软件包 ,其中整合了所有的光路调整,数据测试和分析的 功能。用户可以通过不同组件的切换选悻所需的功能 ,例如“测试” 、“粉末数据分析” 、“极图” 、℃DF分析”或“残 余应力”等功能。所有这些功能都集中于 同一个界面友好且容易操作 的软件操作平台。

 

智能光路感知功能

由于光学组件可以被仪器自 动识别 ,使用理学的Guidance 软件可以通过演示动画指导用户更换光路或附件 。

除此之外,对于常见的应用 ,软件包中预设有推荐的光路 设置 、样品校正和测量序列 ,可以吗助初学者尽快熟悉井 完成所需的测试。

 

流程图式的测试引导栏

Sma『tlab Studio  川 采用了简洁的流程图式的引导栏,从测 试到数据分析的整个过程中 ,通过提示关键步骤 ,更加直 观的帮助测试人员者理解每步操作。

 

综合信息管理系统

Smartlab Studio II 采用了先进的 SOL数据管理模式,于本 地数据库中高效的管理测试材料信息 、测试数据及数据分 析结果 。SOL数据库具有出色的数据检索和备份功能 ,可以轻松处理海量测试信 息.

Smartlab SE 可根据应用需求调整配置

反射/透射 模式下的粉末衍射测量

反射模式光路配置

  • Bragg-Brentano 聚焦法

.平行光束法

·发散光束法

用户可以根据测量需要在反射模式和透射模式 间切换。使 用会聚光束进行透射法测试 ,可以获得更高的强度和更好 的分辨率。

0.1 质量分数% 石棉 (温石棉) 分散于碳酸钙中 一束发散的X射线经过平面镜单色后进行衍射实 验 ,相比于传统的 Bragg-Brentano聚焦光路模 式,可以获得更高的信背 比。从衍射实验结果中可

以看出,?自量的石棉衍射信号都可 以被检测到 。

 

透射模式光路配置

 

·聚焦光束法

·平行光束法

(上图展示的是垂直模式下的透射测试光路)

分别用反射法和透射法测试药 片的X射线衍射峰 药物片剂一般由含有甜昧的辅料及可食用色素构 成,可以有效的降低药片在吞咽时的苦涩感。药片 表面的成分可以通过反射法进行测试 ,而药片内部的信息可以通过透射法获得。

 

微区衍射测试

采用理学专有的 CBO-f光学附件,该附件可以使X射线会聚于 样品表面,而不再需要调整×射线从线光源到点光源。除此之外,使用D/teX Ult「a250 高速探测器或 HyPix-400 二 维半导体阵列探测器可以快速的检测到微区实验中弱的衍射 信号。

 

微区测试应用于即刷电路板

(1) 电容器 (2) IC 芯片 (3) 焊点 采用CBO-f 和 HyPix-400 测试。


 

极图/残余应力测试

使用线光源在极图测量时 ,可以降低由于使用Schulz狭缝 时,衍射强度随试样倾角的增加而降低的情况 ,其测试效果与点光源一致。软件中的“Pole figure and ODF analysis” 插件可以进行晶体取向分析井且可以通过重新计算得到样品的全极图。

 

在残余应力测试中 ,使用平行狭缝分析器  ( PSA) 可以有效 的降低由于位移误差造成的峰位漂移 。

 

重新计算后生成的铝锚片的全相极图

 

 

测试中使用了 ,α日 样品台 ,反射附件 , Schulz挟缝。全相极图是基于三个不 同的 米勒指数面 仆仆,200 和 220 ) 的测试结 果,通过ODF重新计算得来的 。

 

小角X射线散射(SAXS)

SAXS测试可以获得粒径或孔径小于 100nm的材料的分布情 况,衷测试过程中 28角度移动范围小于 10。。SAXS测试过程 中,使用双挟握和平行光光路系 统。/使用真空光路 ,可以减小空气散射的影响 ,从而获得高质量 的数据。

 

10 SAXS测试分散于 甲苯中的金粒子 (双 狭缝光学系统)

原位测试

原位 ( In-situ ) 测试技术 ,可以通过测试人员的控制,改变 温度或湿度,同时测量衍射数据的变化。Smartlab SE支持 各种原位测量附件 ,如常见的变温附件 ,湿度控制附件,使 用DSC附件还可以监测样品在热反应前后的变化 。多种原位 附件与HyPix400半导体阵列检测器的结合 ,使得快速的实时 测量成为可能 ,不仅可以鉴定结构的变化 ,还可以检测大尺 寸晶粒和晶面取向的变化。

 

 

相变属虫化过程,甲糖宁是一种治疗糖尿病的 药物J 监测其在变温过程中物象的变化。 随着温度的变化,甲糖宁的晶体结构发生改 变。使用二维半导体阵歹I]探测器HyPix-400, 可以监测其在眼热反应 (峰) 前后晶体结构 的变化。

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