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半导体微纳检测仪器 > 日本理学X射线衍射仪
 
SmartLab 智能 X 射线多晶衍射仪
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日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab,是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪,它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

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日本理学 XRD 智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab

 

智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列,是当今世界性能的多功能的 X 射线衍射仪,它采用了理学独创的 CBO 交叉光学系统、自动识别所有光学组件、样品台、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance,一台仪器可以智能进行普通粉末样品、液体样品、纳米材料、药品、半导体、薄膜样品测试。

 

日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 技术参数

• 1、X 射线发生器功率为 3KW、新型 9KW 转靶

• 2、测角仪为水平测角仪

• 3、测角仪最小步进为 1/10000 度,精度测角仪(双光学编码、直接轴上定位)(理学专利)

• 4、测角仪配程序式可变狭缝

• 5、自动识别所有光学组件、样品台(理学专利)

• 6、CBO 交叉光路,提供聚焦光路及高强度高分辨平行光路(带 Mirror)(理学专利)

• 7、小角散射测试组件(SAXS / Ultra SAXS)

• 8、多用途薄膜测试组件

• 9、微区测试组件、CBO-F 微区光学组件

• 10、In-Plane 测试组件(理学独有)

• 11、入射端 Ka1 光学组件

• 12、高速探测器 D/teX-Ultra(能量分辨率 20%以下)

• 13、二维面探 PILATUS 100K/R(用于同步辐射环的探测器,可以接收直射 X 射线)

• 14、智能的测量分析软件 SmartLab Guidance(专利)

 

•日本理学智能 X 射线多晶衍射仪 SmartLab 主要特点智能 X 射线衍射仪 SmartLab 系列,可以广泛应用于各种材料结构分析的各个领域。

 

可以分析的材料包括:金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料

可以分析的材料状态包括:粉末样品、块状样品、薄膜样品、微区微量样品

 

主要的应用有:

1. 粉末样品的物相定性与定量分析

2. 计算结晶化度、晶粒大小

3. 确定晶系、晶粒大小与畸变

4. Rietveld 定量分析

5. 薄膜样品分析,包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度,电荷密度

6. In-Plane 装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构

7. 小角散射与纳米材料粒径分布

8. 微区样品的分析

 

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