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半导体微纳检测仪器 > 美RTI 自动特性图示仪
 
美国RTI 自动特性图示仪MT Century Curve Tracer
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美国RTI 自动特性图示仪MT Century Curve Tracer,RTI的自动曲线追踪系統,可以最高检测达625引脚。 它有各种尺寸可供选择,以满足最广泛用戶的需求。

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美国RTI 自动特性图示仪

型号:MT Century Curve Tracer



什么是Curve Tracing?
"Curve tracing" 曲线追踪是用于寻找IC芯片中被电损坏的引脚的方法。MultiTrace产品提供了广泛的一系列解决方案,从使用powered curve tracing测试小型芯片的开路/短路到使用Latch Up testing测试与更为复杂的多电路的芯片。

 

RTI's MT Century Curve Tracer 
RTI 开发的MT Century Curve Tracer是一个性价比较高的曲线追踪设备。MT Century Curve Tracer测试设备,最多到96个channel,提供4种型号可供客戶选择,一定会找到一款符合客户的预算及测试要求的系統。MT Century Curve Tracer 与RTI其他大型curve trace拥有一样的可靠性,功率和软件。像其他RTI机型一样,MT Century系統的设计有与950系列的测试夾具及其它专用夾具连接的接口。

 

    

 

RTI's MultiTrace Test System

原來的自动曲线跟踪器已经提供超过10年。这款系统可以最高检测达625引脚。 它有各种尺寸可供选择,以满足最广泛用戶的需求。

 

 

MultiTrace 的应用:

 

· 无源曲线追踪器 (Unpowered Curve Tracing):

检测开路,短路和漏电流

 

· 有源曲线追踪器 (Powered Curve Tracing): 
检测漏电流,供电电流问題。 测量大量有用的參数

 

· 电源电流测量(Supply Current Measurements): 
两种方法來測量电流供应 。 
A 6-Bus 系統可同時对3组电源測量

 

· Latch Up 测试: (选配)
根据JESD 78 特征, 找出 Latch-Up 敏感度 .

 

 

基础 Curve Tracing 的应用:

· Input-Output 转换功能:
将输入电压接到引腳上,测量輸出引脚电平变化.

 

· 对晶体管做曲线分析:
检测任何型号的晶体管

 

· 显微鏡:
使用显微镜定位原件的损伤部位.

 

· IDDQ 测试:
测量芯片每个状态的电流输入

 

· 功能性的引导能力:
Change Input Pin States According to an Input File Then Measure What you Need. Ability to Measure Output States Allows for Gross Functional Testing

根据所輸入信息改变输入 Pin的状态,然后进行量测。測量輸出区域的功能测试状态。

 

· Kelvin 4-Wire 阻力测试:
使用這种特制的应用软件来控制开关矩阵和收集的数据,实现精密的电阻測量。

 

RTI's MegaTrace 自动直流參數曲线追踪

MegaTrace由648引脚开始一直到2160的引脚,因此其有足夠的能力來测试几乎任何芯片。机器集成化较高,机台很容易移动,也可以与其他仪器如显微鏡,探针台,以及其他远程测试机器一起使用。

 

曲线追踪功能

· Unpowered 曲线追踪 (连续测试)

· Powered 曲线追踪

· Supply Current Characterization (Idd 测试)

· 6条总线系统的2VDD 及 3 VDD 湔試

 

其它测量及测试功能

· Latch-Up 测试

· 功能性预处理

· 任何的±15V 一& ±1A直流测量

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