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半导体微纳检测仪器
 
Royce AP+ 全自动芯片分选系统
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Royce AP+ 全自动芯片分选系统,适用芯片尺寸: 托盘放置: 0.2 mm2 - >25 mm,载带放置: 0.5 mm2 - 最大 17 mm2。

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产品详情

芯片拾取及放置系统 (Die Pick & Place Systems)

NEW !! AP+ 全自动芯片分选系统

 

  

 

适用芯片尺寸: 托盘放置: 0.2 mm2 - >25 mm2
               载带放置: 0.5 mm2 - 最大 17 mm2

 

输入: 采用载带框或兰膜环,晶圆直径最大至 Ø300 毫米
 

输出: 载带(宽度8 至 24 毫米,热封或压封),Waffle packs 及Gel-Paks (2"- 4"),JEDEC盘,载带框,兰膜环或特别定制
 

放置精度: ± 12.5 微米(重复精度)
 

拾取原理: 表面或顶部边缘真空拾取(采用:Rubber, Vespel,Tungsten carbide, elastomer) 可选非表面接触的Vespel edge grip
 

产能: 根据不同产品,最短1.3 秒/循环

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