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实验检测仪器
 
美SD粒子碰撞噪声检测仪4511A、4511L、4511M4、4511M6
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美SD粒子碰撞噪声检测仪4511A、4511L、4511M4、4511M6,用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验. 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。

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产品详情

美SD粒子碰撞噪声检测仪4511A、4511L、4511M4、4511M6

 

  

选型说明:
 
每种型号的颗粒碰撞噪声检测仪都包括 :控制器,振动台,传感器, 灵敏度测试单元,软件, 示波器, 电缆, 耗材, 及相关文件.其型号选择主要根据被测件的重量和外型尺寸而定,我们的标准配置采用的是M230 振动台可测负载重量,全频率范围内为 400 克 , 换能器台 面直径为22mm~150mm, 换 能 器 因 在 其 中 心 区 域50%面积处灵敏度最高,故实际台面选择时换能器面积要略大于被测件最大扁平面面积。
 
设备用途:
用于电子元器件封装后,对器件内多余粒子碰撞噪声检测试验,目的在于检测器件封装腔体内存在的自由粒子,是一种非破坏性实验. 用来测试电器零件从而提高电器零件的可靠性。
 
适用范围:
用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒.
 
PIND 技术参数:
 
振动规格:
频率范围:25 至 250Hz, 正弦曲线
其他振动模式:随机极限,75 至 400Hz 平坦频率
自动阶型频率,40 至 250Hz
低频率程序:最大振幅保护随频率变化
频率分辨率:1Hz
时间 :每个程序 0.1 至 25.5 秒
时间程序分辨率:0.1 秒
振幅:0.1 至 25.50’G’峰值,4 位数显
振幅程序分辨率:0.1’G’
重复性:0.5’G’峰值,带反馈控制
D.U.T.载荷:最大 350g(整个范围)
最大 400g 在 60Hz
 
冲击规格:
方法:冲击台反馈控制
自适应 D.U.T.载荷冲击
振幅:100 至 2500’G’可编程
程序分辨率:10’G’
重复性:50’G’内
脉冲宽度:<100 微秒在 50%振幅下
典型的是 150-200 微秒在 10%振幅下
冲击延迟:冲击脉冲下降沿时间,从 25 至 250 微秒
D.U.T.载荷:振幅随负载轻微下降
最大能力 500 克在 1000g 振幅下
(可能需要改变程序值来加大载荷)
 
最大载荷规格
振动台极限:800 克
振动极限:400 克 W/传感器
冲击极限:500 克(可能需要增加程序值)
电气规格
电源:100,120,220,240VAC+/-10% at 50 or 60 Hz 可选
功耗:最大 300 瓦
额定功率放大:最大动态加载 100w RMS
声波检测电路:60dB 增益+/- 2 dB
100-200KHz 带宽
极值:两点极值开关,出厂设定
 
 
输出:
加速度显示:16 位 LED
频率显示:16 位 LED
极值交替指示:一个冲击检测 LED
一个故障显示 LED
冲击值显示:16 位 LED
示波器:10V,峰值
声音:4w 内部扬声器
最小输出:10V,峰值
 
冲击传感器规格:
灵敏度:-77.5 dB +/- 3 dB re 1V per 微巴 at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 测量
电缆: 整体 3 通道全屏蔽柔性电缆
电磁干扰保护:所有电缆全法拉第屏蔽
 
传感器
不同型传感器大小不一样
例如:4511M 传感器参数为:
100-4S155-4(传感器):
压电晶体数量:4 个,每个 0.75 英寸直径检测范围
直径:100mm(4in)
重量:190 克
 
加速度计规格
灵敏度:2.1 pc/G +/- 10% at 100 Hz
几何位置:装于冲击传感器内
STU 传感器灵敏度:-77.5 dB +/- 3 dB ref 1V per
Microbar at 155 kHz
按 ANSI2.1-1988 测量
外部 STU 脉冲器输出:250 微伏+/- 20%
 
物理特性(几何外形尺寸)
控制器:13cmX43cmX47cm(5.25X17.0X18.5in)
示波器:13cmX22cmx46cm (5.25X8.5X18in)
M230 振动台:10cm High X 18cm Dia (4 X 7 in)
 
PIND 检测技术原理

 

颗 粒 碰 撞 噪 声 检 测 ( Particle Impact Noise Detection,PIND)试验是一种多余物检验的有效手段.其原理是利用振动台产生一系列指定的机械冲
击和振动,通过冲击使被束缚在产品中的颗粒(即多余物)松动,再通过一定频率的振动,使多余物在系统内产生位移。活动多余物在产品中发生位移
的过程,是多余物相对产品壳体的滑动过程和撞击过程的一个随机组合过程。

 

在这个过程中,将产生应力弹性波和声波。两种波在产品壳体中传播,并形成混响信号,这个混响信号被定义为位移信号。采用压电传感器拾取到位移信号后,经前置放大器放大后,位移信号由检测装置的主机采集、处理并显示。检测人员可以依据显示的信号波形判定出信号性质,以此得出检测结论.
 
 
如图:一个小的金属薄片将对电子元件造成严重的事故
 
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